Quantifi POL 1200 Series – PXIe
High-Speed Polarization Controller.
Pol 1200 系列偏振控制器
1200 系列偏振控制器專為高產能製造環境中的偏振依賴性測試程序提供極高速的自動化偏振控制。它能快速且精確地協助使用者在晶圓級測試與元件測試中，測量元件的關鍵偏振特性。具備三種操作模式，使其成為一款多功能儀器，可支援產品生命週期的各個階段，從研發 (R&D)、驗證到量產製造。
特色
三種操作模式
提供掃描與最佳化 (Scan and Optimize)、手動 (Manual) 與去偏振 (Depolarize) 三種模式，靈活滿足不同測試需求。
高速操作
具備極快的訊號最佳化速度，適用於偏振依賴性測試。
低插入損耗
精心設計確保極低的插入損耗。
高光功率處理能力
可承受高達 500 mW 的光功率（+25 dBm）。
全軟體控制
無需調整纖盤或張力螺絲，可透過 SCPI 或 gRPC 程式指令、LabVIEW，或直覺的網頁 GUI 介面進行控制。
完整的觸發功能
可在 PXI 系統中使用輸入觸發控制儀器行為，並提供輸出觸發以同步其他儀器（如光功率計或可調式雷射）。
單插槽 PXIe 模組
作為緊湊的單插槽 PXIe 模組，可與多種光學與電氣測試模組整合，構建靈活、可擴展且高密度的測試系統。
應用
- 矽光子元件測試
- 偏振依賴性測試
- 多功能偏振控制
