Nexustest CT8203
CT8203 雷射二極體晶粒測試機
Nexustest CT8203 雷射二極體晶粒測試機，專用於半導體雷射二極體（LD）在低溫與常溫條件下的 LIV 掃描與光電特性測試。系統採用雙溫區設計，可在不同溫度條件下同步測試兩顆被測元件，大幅提升測試效率。
系統主要由六大模組組成：晶圓供料區、晶粒搬運區、晶粒位置校正區、晶粒 OCR 擷取區、晶粒測試區與晶粒收料區。整合晶圓環上料、傳輸、DUT ID 掃描、高低溫測試、下料與分類等完整流程。
CT8203 支援雷射正向／反向光電量測與正向光譜量測，並具備雙溫區測試平台，可同時進行低溫與常溫的平行測試。系統測試效率極高，六大流程可於 6.5 秒內完成（1 次 LIV + 3 次光譜），非常適合高產量量產應用。
整體結構採用偏心凸輪機構、高精度線性馬達、高重複性步進馬達量測模組、高精度治具、高穩定通電探針與高導熱測試平台，確保系統具備超高精度與長時間穩定性。
特色
全自動智慧整合解決方案
高度整合且全自動化，完整涵蓋複雜的測試流程
高效率量產設計
提升測試效率並降低人為操作所帶來的潛在風險
自動化光學切換與量測
支援準直光纖與大面積光偵測器自動切換
自動分類機制
測試完成後自動進行 DUT 分類
維護與升級簡便
所有機構模組皆可獨立回廠維修與升級
操作介面友善
具備自動警示狀態與提示顯示功能
所有儀器設定、測試流程與判定標準皆可彈性設定
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