cilab ci220
高速接觸式測試系統
ci220 為新一代全整合式接觸式測試系統，結合最先進的 FPGA 與量測技術，可實現高速、精準且穩定可靠的接觸式測試，並支援開發與除錯應用。
支援標準／應用
EMV Contact L1
ISO 7816
SPI
-
EMV Payment
SIM & eSIM
Smart Cards
Certification testing
Development / Debugging
特色
Supports up to D = 64 (non EMV applications)
Low capacitance test slot
True analog processing
Analog recording for protocol tests
Fast custom test case development
Flexible API (RCI)
Fast LAN / USB3 interface
.png){kind=small}
.png){kind=small}
.png){kind=small}
.png){kind=small}