NFC 開發與認證測試系統
ci230 高速測試系統為全球最快的 NFC 測試工具之一，整合多項功能於單一平台，提供一站式測試解決方案。透過內建功率放大器，可完整支援 EMV、NFC Forum 及 ISO 等相關測試需求。
採用革命性系統架構，ci230 可同時實現類比與數位 NFC 測試的高速執行，兼顧效能與精準度。系統專為 NFC 開發、預認證（Pre-certification）、正式認證（Certification）及量產測試應用而設計。
ci230 可有效縮短認證流程、降低測試成本，協助客戶加速投資回報（ROI），並透過縮短產品上市時間（Time to Market），強化市場競爭優勢。
ci230 測試時間範例（世界最快 NFC 測試工具）
- EMV 3.2a PCD L1 analog (3 PICCs and IQ) … < 30min
- ISO10373-6 PICC analog … < 3min
- NFC-Forum analog CR15 / TR15.0 (all antennas) … < 90min
支援標準
EMV PCD 3.2a / PICC 3.2b
ISO 10373-6 / ISO 10373-7
ISO 24192
NFC Forum CR15 / TR15.0
ISO 14443 proximity A / B
ISO 15693 vicinity
主要特色
Ultra fast testing
Integrated RF power amplifier
Advanced Shmoo analysis
Flexible API (RCI)
Absolute PCD / PICC sensitivity measurement
Integrated VNA
PCD & PICC emulator
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