Nexustest WAT6600
Parallel Parametric Test System
WAT6600 為一套高效率平行式參數測試系統，可快速執行高精度 DC 量測、電容量測，以及各類高頻應用測試（如 Ring Oscillator 量測）、Flash Memory 測試等。
特色
自主研發
採用自主開發的硬體平台與量測資源，具備穩定供應鏈與短交期優勢。
高輸出能力
提供 Per-Pin 資源配置，SMU 最高支援 200 V、1 A，PGU 支援 ±20 V 輸出。
可配置 Pin 數
最高支援 48 Pin Full Kelvin 量測架構。
高精度量測
量測精度低至 1 pA，系統漏電流低於 500 fA，可實現極低電流量測能力。
支援 SECS/GEM 規範
可輕鬆整合客戶 EAP 系統與工廠自動化架構。
內建維護軟體 CAL / DIAG / PV
可快速進行硬體故障排除與診斷，即時確保測試機台效能與穩定性。
相容 48 Pin Probe Card
支援 48 Pin、230 mm 直徑 Probe Card，可保護客戶既有 Probe Card 投資並降低新測試機導入成本。
相容主流 Prober
相容 TEL P8XL／P12／P12XL／Precio XL，以及 TSK UF200／UF3000／UF3000EX 等主流 Prober 機型。
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