Serial Parametric Test System
Nexustest WAT6200S 系列串行式參數測試系統，可快速執行高精度 DC 量測、電容量測，以及各類高頻應用與 Flash Memory 測試等。
WAT6200S 系列分為 WAT6210S 與 WAT6215S 兩種機型。兩套系統皆最高支援 8 通道 Source Measure Unit（SMU）輸入，可獨立設定為電流源、電壓源、電流量測或電壓量測模式。
系統最高可支援 4 通道高壓脈衝產生器（HV-SPGU），提供高速 Pulse Generator 功能，以滿足先進 Flash Memory 測試需求。
WAT6210S 可擴充至最高 48 通道低漏電流 Switch Matrix 輸出，其 Switch Matrix 與 SMU 整合於 Test Head 內部。
WAT6215S 採用雙低漏電流 Switch Matrix 架構，可擴充至最高 48 通道 Full Kelvin Connection 輸出，所有量測儀器皆整合於 Cabinet 內，適用於全自動或半自動 Probe Station。
此外，系統亦支援 6 或 12 組輔助輸入埠，可連接 DVM、LCR、Signal Analyzer 等外部儀器，以實現高精度電壓、電容與頻率等串行量測應用。
特色
自主開發硬體資源
採用自主開發 SMU、PGU 與低漏電流 Switch Matrix，具備穩定供應鏈與短交期優勢。
彈性 Pin 數配置
支援 14 組輸入埠與 48 組輸出埠，並提供獨立 Chuck Port 設計，可降低系統升級成本。
高精度量測
量測精度低至 1 pA，系統漏電流低於 1 pA，可實現極低電流量測能力。
支援 SECS/GEM 規範
可輕鬆整合客戶 EAP 系統與工廠自動化架構。
整合 GAL / DIAG / PV 軟體
支援客製化測試 Log 記錄，可協助使用者快速定位與排除問題。
相容 48 Pin Probe Card
支援 48 Pin、230 mm 直徑 Probe Card，可保護客戶既有 Probe Card 投資並降低新測試機導入成本。
高適應性與完整相容性
提供熟悉且易於操作的使用環境，並支援 Python 演算法開發。
相容主流 Prober
相容 TEL P8XL／P12／P12XL／Precio XL，以及 TSK UF200／UF3000／UF3000EX 等主流 Prober 機型。
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